Únase a nosotros para un seminario de dos horas, dirigido por expertos en el campo, para discutir las pruebas de tensión in-situ en transmisión y escaneo de electrones.

Horario de transmisión:

jueves 25 de junio – 2PM CEST y 3PM PDT

Resumen del seminario:

La prueba de tracción es la prueba mecánica estándar para determinar el módulo de Young, el límite elástico, el trabajo de endurecimiento y más. Estas pruebas son más desafiantes que sus homólogos, en escalas de longitud nano y micromecánicas se requiere una preparación y posicionamiento de muestras avanzadas. En 2006, los investigadores que utilizaron las herramientas de Picoindentadores Hysitron de Bruker fueron los primeros en realizar pruebas cuantitativas in-situ, originalmente en el TEM, seguidas en breve en el SEM. Los modos de indentación, compresión y tracción como estándar en el Hysitron PI 95 original condujeron a una ola de publicaciones in-situ. En este seminario, la atención se centra en volver a crear una tensión uniaxial utilizando tanto estiramiento (pull) directo con accionamiento de tracción del transductor, como mediante empuja para estirar (push-to-pull) por actuación del chip MEMS patentado.

Damos la bienvenida a estos expertos para presentar datos del pasado, presente y futuro de las pruebas de tracción in-situ en SEM y TEM.

Presentaciones:

  • In-Situ Tensile Testing in a TEM: Both Measuring and Observing Changes in Local Structure
  • In-Situ TEM Failures in Fatigue and Other Extreme Environments
  • A Practical Demonstration of In-Situ SEM Direct Pull Tension: Step-by-Step Sample Preparation and Testing of a Duplex Steel

Presentadores:

Dr. Andrew M. Minor – Professor

Dr. Zhiwei Shan – Director

Dr. Khalid Hattar – Principle Member of the Technical Staff

Dr. Eric Hintsala – Applications Scientist